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16 Mbit SPI Serial Flash
A Microchip Technology Company
SST25VF016B
Data Sheet
Table 10: DC Operating Characteristics
Limits
Symbol Parameter
Min
Max Units Test Conditions
I DDR
I DDR2
I DDR3
I DDW
I SB
I LI
I LO
V IL
V IH
V OL
V OL2
V OH
Read Current
Read Current
Read Current
Program and Erase Current
Standby Current
Input Leakage Current
Output Leakage Current
Input Low Voltage
Input High Voltage
Output Low Voltage
Output Low Voltage
Output High Voltage
0.7 V DD
V DD -0.2
10
15
20
30
20
1
1
0.8
0.2
0.4
mA
mA
mA
mA
μA
μA
μA
V
V
V
V
V
CE#=0.1 V DD /0.9 V DD @25 MHz, SO=open
CE#=0.1 V DD /0.9 V DD @50 MHz, SO=open
CE#=0.1 V DD /0.9 V DD @80 MHz, SO=open
CE#=V DD
CE#=V DD , V IN =V DD or V SS
V IN =GND to V DD , V DD =V DD Max
V OUT =GND to V DD , V DD =V DD Max
V DD =V DD Min
V DD =V DD Max
I OL =100 μA, V DD =V DD Min
I OL =1.6 mA, V DD =V DD Min
I OH =-100 μA, V DD =V DD Min
T10.0 25044
Table 11: Capacitance (T A = 25°C, f=1 Mhz, other pins open)
Parameter
C OUT1
Description
Output Pin Capacitance
Test Condition
V OUT = 0V
Maximum
12 pF
C IN
1
Input Capacitance
V IN = 0V
6 pF
T11.0 25044
1. This parameter is measured only for initial qualification and after a design or process change that could affect this
parameter.
Table 12: Reliability Characteristics
Symbol
Parameter
Minimum Specification
Units
Test Method
N END
T DR1
I LTH1
1
Endurance
Data Retention
Latch Up
10,000
100
100 + I DD
Cycles
Years
mA
JEDEC Standard A117
JEDEC Standard A103
JEDEC Standard 78
T12.0 25044
1. This parameter is measured only for initial qualification and after a design or process change that could affect this
parameter.
?2011 Silicon Storage Technology, Inc.
23
DS25044A
08/11
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